E+H雷达物位计已成为物位测量仪表市场上的主流产品，主要分为雷达物位计和导波雷达物位计。
1.E+H雷达物位计
雷达物位计发射功率很低的极短的微波通过天线系统发射并接收。雷达波以光速运行。运行时间可以通过电子部件被转换成物位信号。一种特殊的时间延伸方法可以确保极短时间内稳定和精确的测量。即使存在虚假反射的时候，新的微处理技术和软件也可以准确地分析出物位回波。通过输入容器尺寸，可以将上空距离值转换成与物位成正比的信号。仪表可以空仓调试。在固体测量中的应用可以使用K-频段的高频传感器。由于信号的聚焦效果非常好，料仓内的安装物或仓壁的粘附物都不会影响测量。
2.E+H导波雷达物位计
导波雷达物位计的微波脉冲沿着一根缆、棒或包含一根棒的同轴套管运行，接触到被测介质后，微波脉冲被反射回来，并被电子部件接收，并分析计算其运行时间。微处理器识别物位回波，分析计算后将它转换成物位信号给出。由于测量原理简单，可以不带料调整，从而节省了大量调试费用。测量缆或棒可以截短，使之更加适应现场的应用。对于蒸汽不敏感，即使在烟雾、噪音、蒸汽很强烈的情况下，测量精度也不受到影响。不受介质特性变化的影响，被测介质的密度变化或介电常数的变化不会影响测量精度。粘附：没有问题，在测量探头或容器壁上粘附介质不会影响测量结果。容器内安装物如果采用同轴套管式的测量*不受容器内安装物的影响，不需要特殊调试。
可以提供不同形式的探头用于不同应用：
1.缆式，用于测量液体介质或重量大的固体介质，量程可达60米；
2.棒式，用于测量液体介质或重量轻的固体介质，量程可达6米；
3.同轴套管，用于测量低黏度的介质，不受过程条件的影响，量程可达6米。 E+H雷达物位计优势： 硬件和软件开发过程符合IEC 61508标准，单台仪表满足SIL2， 同构冗余条件下达SIL3 稳定可靠的非接触式测量，不受介质和过程条件变化的影响 HistoROM集成数据存储单元，帮助快速调试、维修和诊断 测量可靠性高，基于多回波追踪计算，即使仓内存在障碍物依然能够准确测量 心跳技术，在整个生命周期内实现高效、安全的工厂运营 无缝集成到控制或资产管理系统，直观的菜单引导式操作概念（现场或通过控制系统） 通过世界的SIL和WHG实验认证，节约您的时间和经济成本 E+H应用领域：
平嵌式安装，PTFE*密封的喇叭天线。 过程连接：平嵌式复合法兰，满足卫生需求的过程连接（卡箍式，11851） 温度范围：-196°C 至 +200°C (-320,8 至 +392°F) 压力范围：-1 至 +25bar (-14.5 至 +362psi) 测量范围：40m (131ft), 高级动态响应60m (197ft)
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